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DFT 与 ATPG综 述

标签：   vlsi  DFT  ATPG

     DFT 可测试性设计 工程会接触 DFT。需要了解 DFT 知识，但不需要深入。 三种基本的测试（概念来自参考文档）： 边界扫描测试：Boundary Scan Test: 测试目标是 IO-PAD，利用 JTAG 接口互连以方便 ...

关于ATPG

标签：   集成测试

     对电路进行测试,首先要解决的就是测试生成的问题。测试生成就是针对于特定电路的给定故障, 生成相应测试向量的过程,该测试向量使得故障电路和正确电路的输出不同,该过程解决两个主要问题：........................

     上图所示为测试自动化生成方法，首先读入RTL代码进行综合，在综合的过程中利用DFT Compiler进行扫描单元替换，然后完成一步到位的综合，包括设计规则检查，测试综合验证，内核测试包装。构建过程完成后，TetraMAX会...

ATPG

标签：   DFT测试

     更具体地说，工具给控制点分配一组值，使故障点与无故障状态具有相反的状态，所以，可以...ATPG的目的是创建一组patterns， 来达到给定的测试覆盖率，测试覆盖率是pattern集实际检测到的故障占可测试性故障的百分比。

     我们讨论并介绍了 ATPG，它消除了我们在大型电路中生成test pattern的痛苦。然而，对于计算机来说，ATPG 仍然是一个缓慢而昂贵的过程。因此，在耗时的 ATPG 算法之前执行随机TPG，这对减少测试时间非常有利。在特殊...

     作者曾鸿yi（hyzeng_at_stanford.edu） Peyman Kazemian（kazemian_at_stanford.edu）什么是ATPG？ ATPG代表“自动测试数据包生成”。 它是通过针对网络配置生成测试套件来正式测试网络正确性的框架ATPG读取路由器...

     该库提供了一个开放源ATPG API，可用于在其上构建程序。 该库实现了许多模板c ++类和功能，这些模块提供了Combitional / Sequential逻辑仿真和故障仿真功能（semi-PROOFS）。

     我们提出了一种新的自动测试模式生成（ATPG）方法，称为MultiDetect，用于测试线性时不变（LTI）电路。所提出的技术最适合在片上系统中使用现有的构建模块来实现片上测试信号发生器和测试响应分析器。使用...

     文章目录ATPG DRC 本博文是博主记录DFT实训教程的笔记版本，此笔记并没有对所有的知识进行记录，仅仅以自身的认知水平，来记录了一些部分笔记并加上了自己的理解. ATPG DRC scan chain tracing 第一步ATPG就是要去...

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