”ATPG“ 的搜索结果

     2. MBIST的插入阶段： 用工具插入Mbist时，我们既可以在RTL代码插入，也可以在netlist里面插入。目前，常见的做法是在netlist插入。但是，由于插入的Mbist逻辑是RTL代码，这样如果在netlist里面插入的话，我们还...

     6. 生成ATPG测试模式：通过ATPG控制器和测试模式生成器来生成ATPG测试模式，测试模式可以用于测试芯片的逻辑电路和存储器等。 通过以上流程可以实现数字设计中的DFT技术，在芯片制造和测试过程中提高芯片的可靠性和...

     Boundary Scan： 　A：Boundary scan 顾名思义，是附加在芯片I/O 周边的扫描测试链，它通过专门的测试端口(TAP)访问。在测试模式下，边界扫描链会接管功能逻辑，对I/O进行灵活访问。边界扫描链的结构，测试端口，...

     11.7 Activar Technical Products Group (ATPG) 11.7.1 Activar Technical Products Group (ATPG)基本信息介绍、生产基地、销售区域、竞争对手及市场地位 11.7.2 Activar Technical Products Group (ATPG)磁铁组件和...

     4. ATPG（Automatic Test Pattern Generation）：学习ATPG算法和工具，能够生成高质量的测试模式。 5. DFT规则和约束：了解DFT规则和约束，如扫描链长度、扫描链分组、扫描链时钟等。 6. 芯片布局布线：了解芯片...

     6. ATPG（Automatic Test Pattern Generation）：ATPG是一种自动生成测试模式的技术。通过分析设计的功能和结构特点，生成能够覆盖设计故障的测试模式。ATPG工具通过对设计进行仿真、故障模型生成和优化等步骤，可以...

     在这个过程中，使用了at-speed ATPG方法，通过使用SDF时序信息来激活和传播故障。与传统故障ATPG相似，每个library IO位置都存在slow-to-fall和slow-to-rise故障。ATPG过程使用SDF，所以目标故障在具有最大可能延迟...

     3. "芯片设计中的测试技术：DFT与ATPG" by 田晓光等 4. "芯片测试技术：DFT与ATPG" by 陈建国 5. "VLSI测试技术：DFT与ATPG" by 张志勇等 这些书籍可以在亚马逊或者当当网等在线书店购买。希望这些信息对你有帮助。...

     Modelsim仿真方法 前仿真和后仿真的区别 一定要看！！！！ ... 前仿针对RTL的功能验证， 后仿针对是综合后（加入了约束，单元延时等信息）的网标文件， 形式验证，... 形式验证是一种综合性的验证...

     前言 CDC（clock domain crossing）检查（跨时钟域的检查）是对电路设计中同步电路设计的检查。非同步时钟没有固定的相位关系，这样Setup/Hold不满足而产生了亚稳态是无法避免的。我们采用同步设计的方法保证亚稳态...

     戳蓝字“CSDN云计算”关注我们哦！来源：陌上风骑驴看IC作者：陌上风骑驴在各方助力下，集成电路成了时代热点，有大量文章在写芯片设计之复杂之困难，老驴打算从EDA 使用角...

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