ATPG - 程序员宅基地

后端/DFT/ATPG/PCB/SignOff设计常用工具/操作/流程及一些文件类型

标签： PD DFT PCB

上面的表格即显示了从RTL到GDS要做的工作，也列举了相应的工具。由于版本较为久远，并没有提到今年来出现的Fusion compiler，这是一个可以完成综合和PR的工具，功能相当于DCG+ICC2，后文后简单介绍。...

Tessent scan & ATPG(7) 设计规则检查 (DRC)

写在前面, DFT compiler 和Tessent 都有...ATPG工具会使用verilog模型区创建自己的工具内部的设计模型;设计中的cell会转换成ATPG library中的标准单元; #使用 analyze_control_signals create_flat_model check_desi.

DFT中的SCAN、BIST、ATPG基本概念

标签：数字IC设计

BIST(Built-in Seft Test)内建测试，是DFT的一种技术。Automatic Test Pattern Generation (ATPG)是DFT（Design for Testability，可测试性设计）中常用的技术，用于自动生成测试向量。

Tessent Atpg系列第八章 Test Pattern Generation - ATPG Tool Pattern Types（sequential pattern概念）

标签： tessent DFT

默认情况下工具是会先生成basic scan pattern，basic scan pattern是将一组values 给所有的scan cells( load in)，以及 primary PI，另外再所有的primary output 以及scan cell上进行观察（measure po）, 工具会使用...

Mentor-dft 学习笔记 day35-Multiprocessing for ATPG and Simulation(1)

标签：学习网络开发语言

Multiprocessing for ATPG and Simulation(1)

Tessent Scan and ATPG User‘s Manual 2022 ch3 Common Tool Terminology and Concepts

标签：其他

Tessent Scan和ATPG工具的术语、内部流程和其他工具概念，例如如何查看设计和扫描电路。

Tessent scan&ATPG(9) simulation mismatch(debug向量仿真问题)

标签： DFT

pattern simulation mismatch发生的原因及debug方法

5.1 Tessent Atpg系列第八章 Test Pattern Generation - Verify Test Pattern

标签： tessent DFT

为什么要做基于timing的仿真，意义在于可以比较ATPG工具和simulator工具的差异性。因为时序的差异导致不同的结果。首先你需要通过write_patern 这句cmd来写出pattern，默认是parallel 模式，除非你用-serial 指定写...

TetraMAX ATPG的基础整理

标签： verilog

TetraMAX ATPG的基础整理

Tessent scan & ATPG(2) ATPG basic flow

ATPG 的基本步骤 DFT lib 一般vendor会提供也可使用 tessent 的libcomp工具将simulation lib转化为 DFT lib 什么是 simulation lib ? 是仿真专用的库吗? 那仿真和综合布局布线为什么要分开来? black boxes 存在...

可测试性设计与ATPG介绍

标签： DFT ATPG

可测试性设计与ATPG介绍

Tessent scan & ATPG(8) Debug low test coverage(低测试覆盖率的原因及debug方法)

标签：测试覆盖率

如何利用工具debug测试覆盖率低的原因

Tessent Scan and ATPG User‘s Manual 2022 ch12 Test Pattern File Formats

标签：其他

在扫描链的卸载(unloading)过程中，在扫描链输出引脚处测量相应对应扫描链的每个值。移位过程将扫描链中的值依次移出，直到所有扫描链中的所有值都被unloading。同样，因为shift的数量是由最长扫描链的长度决定的，...

可测试性设计技术：ATPG篇 Fault Classes（2）

标签：测试覆盖率经验分享设计模式

除了上文提到的UT外，Fault还有另一大类也是我们更加关心的一类TE，即可以检测到的fault。工具在计算test coverage时并不会将UT计算进去，而是计算detect到的fault的数量以及可能detect到的fault占所有fault中除去不...

【Tessent】Scan and ATPG 【ch1 Overview】

标签：其他

ASIC/IC DFT方法的概述。

Tessent Scan and ATPG.pdf 最新版本

标签： vivado xilinx tessent

SIEMENS EDA Tessent Scan and ATPG User’s Manual Software Version 2022.4 Document Revision 27

Tessent scan &ATPG (3) Fault 的分类

标签： asic DFT 数字后端

Fualt 的分类在使用 report_statistrics报告scan chain 的总结性的报告时，会出现每种fault的数量以及对覆盖率的影响， TE(testable) Detect by implication (DI)隐含检测在scan chain 数据路径上的 faults被...

Tessent Scan&ATPG appendix3 about dft signals

标签： DFT asic

请求附加的静态,动态的DFT信号;也存在一些已经定义好的DFT信号可以用来控制电路;

Tessent Scan and ATPG User's Manual

标签： DFT

Tessent Scan and ATPG User's Manual

tmax_ug.rar_ATPG_DFT_TMax

标签： atpg dft tmax

DFT用于ATPG的工具usrguide

可测试性设计技术：ATPG篇 Fault Classes（1）

使用ATPG时，工具会根据检测到故障的方式或无法检测到故障的原因将故障进行分类。每个fault都有唯一的名字和两个字符的代码。默认情况下fault会设定在library model的输入和输出端口，可以通过设定set_internal_...

ATPG USE TETRAMAX 思维图

ATPG - use TetraMax 关于ATPG ATPG:automatic test pattern generation(自动生成测试模式） ATE：automatic test equipment(自动测试设备） TMAX ATPG Flow 名词解释 stil：standard test interfance ...

TMAXug ATPG Design Flow

标签： TMAX

本篇博客介绍TMAXug系列的 ATPG Design Flow ATPG process是一个产生测试向量的过程，让ATE设备能够识别到正确的电路与fault 电路。产生tmax，要产生ATPG需要三个文件：Netlist、Library Models、STIL procedures...

Tessent scan&ATPG (5) Additional test pattern types

标签： DFT asic 硬件工程

ATPG test pattern 的类型使用tessent shell 生成的pattern 大致分以下几种类型: 1. basic Scan 对于 full-scan 的电路生成的是basic scan的pattern 2. clock Sequential 用于那些时序深度有限存在no-scan ...

scan & ATPG

Testability用来表征一个manufactured design的quality。将testability放在ASIC前端来做，成为DFT(Design For Test)，用可控(controllable)可观(observable)来表征。 DFT的实现的两个大方向：ad hoc和structure。...