ATPG - 程序员宅基地

请给出一个脚本流程，关于数字设计中生成atpg的

以下是一个数字设计中生成ATPG的脚本流程，以Genus为例： ``` # 设定综合模式为atpg set_synthesis_mode atpg # 设定atpg算法为D-algorithm set_atpg_algorithm D-algorithm # 设定最大故障数为1000 set_atpg_...

ATPG在create pattern之后无法write pattern

在ATPG的create_patterns之后无法write_patterns的原因可能是在create_patterns命令中没有指定将生成的模式写入的文件名。在create_patterns命令中，可以使用-output_file选项来指定输出文件的名称。例如，可以使用...

SCAN BASIC --- PARTIII scan and atpg flow

标签： dft atpg scan

前面章节介绍了scan 的基本概念以及测试流程。本小节介绍scan 的形成和atpg flow。

ATPG中经常用到的名词 SPF

标签： spf tetramax

ATPG中经常用到的名词SPFSTIL procedure file (SPF)TetraMAX ATPG uses STIL in several different contexts. Design information may be provided to TetraMAX ATPG through the STIL procedure file (SPF). ...

tessent scan and atpg

Tessent Scan和ATPG是半导体行业中常用的测试技术。Tessent Scan是一种基于扫描链的测试方法，可以在芯片设计中嵌入扫描逻辑，通过扫描链来控制和观察芯片内部的信号，从而实现对芯片的测试和故障诊断。ATPG...

[ATPG]解读report_nonscan_cells -summary得到的report

标签： ATPG nonscan DFT

解读report_nonscan_cells -summary得到的report在Tetramax中使用 report_nonscan_cells -summary 报告none-scan FF时，会得到如下的报告:报告中”#”号后面的代码的含义如下： C0 (constant zero) - This is a ...

数字设计中，atpg的生成主要有哪些工具？可以在genus中实现吗？

以上ATPG工具都可以在Genus中实现，通过Genus中的set_atpg_mode、set_atpg_fault_model、set_atpg_algorithm等命令，可以配置ATPG模式、故障模型和算法等参数，然后使用run_atpg命令执行ATPG流程，生成测试程序。...

ATPG算法中的socrates算法详解

Socrates算法是一种常用于自动测试模式生成(ATPG)的算法，它的主要思想是利用逻辑模拟技术来检测故障。 Socrates算法主要包括以下步骤： 1. 选择一个候选测试模式，并将其应用于电路中。 2. 对电路进行逻辑模拟，...

请给出一个脚本流程，关于数字设计中生成atpg的（以design compilor）

以下是一个数字设计中在Design Compiler中生成ATPG的脚本流程： ``` # 打开Design Compiler dc_shell # 读取设计文件 read_verilog design.v # 设定综合模式为atpg set_synthesis_mode atpg # 设定atpg算法为D-...

ATPG fail咨询

标签：后端

DFT学习(四)：DFT 之 ATPG（篇二）

标签： DFT ATPG

一些专业术语例子: 第一个与门如果要把D forward 那么另一个port 一定要为1 或者d第2个与门输出的1 如果要向 backward 那么输入必须都为1。

DFT ATPG test coverage 分析与提高--1

标签：模块测试集成测试

按照ATPG 故障模型，可以粗略的分析test coverage 丢失原因

tessent scan & atpg

B'tessent Scan & ATPG 是一种集成电路测试和设计闭环工具，用于生成最小故障检测电路和最优测试程序，以保证集成电路的可靠性和可测试性。它是一个针对芯片设计和验证的完整解决方案，可以帮助设计人员和测试人员...

DFT的主要方法中scan，memory bist，Logic bist，ATPG，分别表示什么

4. ATPG（Automatic Test Pattern Generation）：ATPG是一种自动生成测试模式的技术。它通过利用设计的逻辑信息和时序约束，在设计中自动生成测试向量来覆盖设计的各个故障模式。ATPG能够帮助设计工程师生成高覆盖率...

ATPG——TMAX生成的testbenc增加debug定位option

标签：基带工程 fpga开发云计算

ASIC设计，DFT，ATPG

DFT ATPG test coverage 分析与提高-- nonscan/cdc/constraint

标签：集成测试硬件架构硬件工程

DFT ATPG test coverage non-scan/cdc/constraint导致的coverage loss 以及提高方式

找点关于DFT ATPG的资料

DFT ATPG (Design-for-Test Automatic Test Pattern Generation) 是一种自动生成测试模式的方法，用于检测电路中的故障。它通过分析电路的结构和功能，生成特定的测试模式，以确保电路在生产和使用过程中的正确性。 ...

atpg fault collapse rule

标签：知识图谱

2. gate 为0的且无反向的cell，输入0等价于输出0。3.gate 为1的且无反向的cell，输入1等价于输出1。4.gate 为0的且有反向的cell，输入0等价于输出1。5.gate 为1的且有反向的cell，输入1等价于输出0。...

bsdl,atpg

标签： bsdl atpg

https://baike.baidu.com/item/BSDL/1134337?fr=aladdin

[ATPG]set_atpg -capture_cycles d 中的 d(数字)代表什么意思？

标签： ATPG

set_atpg -capture_cycles d 中的 d 代表什么意思？-capture_cycles d查到SOLD中的解释为：Sets the Fast-Sequential ATPG algorithm effort level. Acceptable values are integers between 2 and 10, or 0. A ...