此新型数据压缩性能增强了自动化测试矢量生成(ATPG)和诊断产品之间的多厂商互操作性,并支持使用一站式诊断流程。 这种新型测试功能在输入端采用了基于XOR发散网络扇出的解压缩技术,而在输出端则使用带有可选的...
此新型数据压缩性能增强了自动化测试矢量生成(ATPG)和诊断产品之间的多厂商互操作性,并支持使用一站式诊断流程。 这种新型测试功能在输入端采用了基于XOR发散网络扇出的解压缩技术,而在输出端则使用带有可选的...
提出了两种可选的测试配置(TC)以提高自动测试向量生成(ATPG)工具所得到的SAFI覆盖率,同时给出了可对LUT进行穷举测试的TC以检测FFL。实验结果表明,对于7个最大的ISCAS89基准电路,该方法可得到86.82%~99.16%的...
from http://wmct.blog.sohu.com/108377876.htmlTetraMAX使用注意事项 1.在*.spf文件中的扫描状态的初始化过程,即是使系统进入到扫描测试状态的JTAG信号输入流程必须放在“test_setup”过程中,否则生成的测试激励...
产生此错误的原因是缺少项目或Jar的引用;解决办法:找到类对应的项目或是Jar包引用到项目中就可以了。详细错误信息如下:严重: Exception sending context initialized event to listener instance...org.springframew
首先先起 ATPG session: tessent -shell //调起tessent tool set_context pattern -scan //设置语境 read_flat_model /tsdb_outdir/logic_test_core/.logic_test_core/.atpg_mode_edt_stuck/transition/.fiat.gz
DFT OCC电路结构以及实现原理 The DFT_clk_mux and DFT_clk_chain are inserted as two separate modules in the top level of the design, but they always function together as a unit....controlled by ATPG.
提示信息: Error creating bean with name 'sessionFactory' defined in ServletContext resource[/WEBINF/applicationContext.xml]: 后面所示的这个类我并没有出现或者增加出现我改名了,修改步骤如下: ...
标签: 测试测量
它是故障模拟,ATPG,内存测试,DFT和BIST基础知识的教科书。但是,它也是一个完整的可测试性指南,适用于想要学习DFT软错误保护,用于高速测试的逻辑内置自测(BIST),DRAM BIST,测试压缩,MEMS测试的最新进展的...
When to Use MacroTest
s3c2410a 用户手册 s3c2410 user mannual
记录DFT见闻
在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障。通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进...
AA International, Inc Butler Winding Activar Technical Products Group (ATPG) ALL Magnetics, Inc Ceradyne CMS Magnetics Co Dexter Magnetic Technologies, Inc. Dowling Magnets Inc EAS Corporation ...
2.set_dft_specification_requirements:指定DRC检查的要求,包括DFT规格;19.set_module_matching_options:定义将ICL模块与ICL提取中的设计模块匹配时要使用的可接受前缀和后缀或规律的表达式;...
标签: 硬件工程
后仿真总结
集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加,而 ATPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义 ,本文对该技术的发展及其所采用的方法进行了系统地介绍和分析.针对门级的组合电路和时序电路的 ATPG方法具有许多相似之处 ,...
11.7.1 Activar Technical Products Group (ATPG)概况分析 11.7.2 Activar Technical Products Group (ATPG)主营产品与业务介绍 11.7.3 Activar Technical Products Group (ATPG)磁铁组件和产品市场表现 11.7.4 ...
半导体测试作为半导体设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤,是使用特定器具,通过对待检器件(DUT,Device Under Test)的检测,区别缺陷、验证器件是否符合设计目标,分离好品与坏品的过程。...
标签: 技术方案
传统的芯片设计日程需要进行综合门级仿真以开发 ATPG、BIST 或功能图形,Veloce DFT App 令其实现了真正的“左移”改进。它能在合理时间内运行完整的 DFT 验证图形,从而缩短图形开发周期。Veloce DFT App 可无缝地...
4.7 Activar Technical Products Group (ATPG) 4.7.1 Activar Technical Products Group (ATPG)基本信息、磁铁组件和工业磁铁生产基地、销售区域、竞争对手及市场地位 4.7.2 Activar Technical Products Group (ATPG...
STIL规范文件,包含STIL语法等
14.2.2 市场表现 14.2.3 主要产品介绍 14.3 Activar Technical Products Group (ATPG) 14.3.1 Activar Technical Products Group (ATPG)公司简介和最新发展 14.3.2 市场表现 14.3.3 主要产品介绍 14.4 AEC Magnetics...
错误信息: org.springframework.beans.NotWritablePropertyException: Invalid property 'sessionFactory' of bean class [dao.impl.UserDaoImpl]: Does the parameter type of the setter match the return type ...
标签: DFT
用于boundary scan layout 的DFT分析
芯片测试分为如下几类: 1. WAT:Wafer AcceptanceTest,wafer level 的管芯或结构测试; 2. CP:chip probing,wafer level 的电路测试含功能; 3. FT:Final Test,device level 的电路测试含功能。...