DFT测试 - 程序员宅基地

DFT - 对芯片测试的理解（一）初识

标签：芯片设计 DFT

DFT用来测试芯片质量，看是否在生产过程中，因为物理制造过程，导致芯片损坏的问题。即不是检查芯片的功能是否正常，只检查芯片的内部连线等等，是否都正确连接到。 > 以前想的是，可以直接设计一个功能测试...

【DFT】可测性设计（一）扫描测试

标签： IC设计 DFT

DFT——扫描测试

某公司DFT测试问题答疑个人学习资料，仅供学习参考

标签：测试课程资源

某公司DFT测试问题答疑个人学习资料，仅供学习参考

提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法

标签：嵌入式软件测试

现今流行的可测试性设计(DFT：DesignForTestability)应运而生，并为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。　在DFT设计中，测试覆盖率及其测试效率是最重要的指标。一方面，理想的设计目标当然希望测试能够遍及...

全面了解DFT技术：如何测试一颗芯片

标签： ic 量产 DFT

ATE详情可阅读【芯片测试：万字长文一起聊聊IC测试机-ATE】

DFT设计与芯片测试；Scan Chain； DC里的DFT的扫描链设计；存在异步复位触发器时的扫描链设计；Scan-In...

标签： fpga开发硬件架构 dft

DFT（Design for Testability ）该设计有助于提高可测试性，从而促进制造过程中的测试和调试，提高了芯片的可测试性和可靠性。没有一个制造过程是完美的，所以生成出的所有的芯片不是都能正常工作，因此，进行测试...

MBIST DFT测试概念

参考博文：https://blog.csdn.net/fengxiaocheng/article/details/80904573 和 ...三种基本的测试（概念来自参考文档）： 1. 边界扫描测试；boundary scan test。测试目标是IO-PAD，利用jtag接...

DFT测试-OCC电路介绍

DFT测试-OCC电路介绍 SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常，我们所说的...

【DFT】DFT入门介绍

标签：前端

DFT全称可测试性技术（DesignFor Test），是一种专为测试的集成电路设计。

复杂百万门集成芯片的DFT测试方案.pdf

标签： EDA/PCB

本文介绍了复杂的百万门ASIC芯片Lugia中几个DFT相关问题的解决方案。这些问题包括：1）用于测试的有限封装引脚; 2）扫描链穿过电源平面边界导致的功率泄漏; 3）DFT模拟样式选择，以节省模拟时间

DC综合及仿真验证和DFT测试

综合技术是提高设计产能的一个很重要的技术，没有综合技术的发展就不可能用HDL实现电路的设计，因为HDL开始是用来供电路仿真建模使用的，到了后来才把其中一部分子集作为可综合的语言，也就是RTL CODE。...

简述有效提高DFT设计测试覆盖率的方法

标签：简述有效提高DFT设计测试覆盖率的方法其它

在集成电路（Integrated Circuit,简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括

DFT测试在ATE执行吗

在DFT测试中，测试程序通常是由测试工程师根据芯片设计的特点和测试需求编写的，然后通过ATE加载到测试设备中进行自动测试。ATE设备会按照测试程序中的指令，对芯片的各个部分进行测试，并将测试结果反馈给测试...

dft测试数字逻辑通过什么覆盖

DFT测试数字逻辑主要通过以下几种覆盖方法： 1. 状态覆盖（State Coverage）：测试器件在不同状态下的行为是否符合设计要求。通过更改输入信号的组合，观察输出信号的变化情况，以检测系统是否正确地进入和退出不同...

gpu算力测试软件,模块充分优化DFT测试资源算力GPU的10倍

标签： gpu算力测试软件

该软件可以自动进行实实施、向量生成、以及故障反向映射流程，DFT 工程师可为每个模块充分优化 DFT 测试资源，无需担心对设计的其他部分产生影响，这将有助于降低实施的工作量。该方案还通过对相同内核的优化处理、...

芯片测试缺陷分类和DFT常用方法

标签：缺陷类型 DFT

目录 0.Soc涉及的测试问题 1.SOC的全面测试--测试顺序看哪部分的失败几率大 2.DFT要测的内容或者说缺陷分类 ...3.DFT测试手段 1. 边界扫描测试：Boundary Scan Test: 2. 内建自测试BIST: 3. ...

数字系统的测试与可测试设计（DFT）

标签：可测试性设计 asic

数字系统的测试与可测试设计（DFT）背景介绍1 Defects1.1 名词解释1.2 缺陷种类1.2.1 Physical Defects物理缺陷1.2.2 Shorting Defects1.2.2.1 Gate-Oxide-Shorts1.2.2.2 Bridge1.2.2.1 Open1.2.2.1 Post-...

【Verilog基础】DFT（Design for Test）可测性设计的一些基础概念

标签：校招数字IC

DFT（Design for Test）可测性设计的一些基础概念

DFT - 对芯片测试的理解（二）详解

标签： IC设计 DFT UDTP

DFT - 对芯片测试的理解（二）详解

DFT - 对芯片测试的理解（一）初识总结—＞详细论述和分析

DFT - 对芯片测试的理解（一）初识总结—>详细论述和分析为什么要做DFT 芯片生产过程中，导致的物理缺陷。 DFT用来测试芯片质量，看是否在生产过程中，因为物理制造过程，导致芯片损坏的问题。即不是检查芯片...

【DFT】可测性设计（二）存储器的内建自测试

标签： IC设计可测性设计

DFT——BIST

[转] DFT--Design For Test

标签：其他

一、DFT概念：可测试性设计 **狭义理解：**是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 **广义理解：**不仅包括为自动化测试所设计的测试...

DFT设计中相关词汇

标签：数字IC dft测试

logic Test controller与每个Block Module相关，以执行内部逻辑测试，在相关block mudules的物理区域之间的chip互连的top module中的逻辑，使用位于top module中另一个logicTest controller进行测试。在compactor...