”tessent“ 的搜索结果

     2.set_dft_specification_requirements：指定DRC检查的要求，包括DFT规格；19.set_module_matching_options：定义将ICL模块与ICL提取中的设计模块匹配时要使用的可接受前缀和后缀或规律的表达式；...

     9.report_powet_metrics：显示shift和cpature对于指定测试patterns的功耗指标；设置context为patterns，将提供于scan和IJTAG pattern 生成，ICL提取，和scan pattern诊断有关的功能。7.set_pattern_filtering：创建...

     如果与当前设计相关的ICL module，包含”force_low_input_port_list"或“forced_high_input_port_list”的icl_module属性，那么这些属性所有应用的端口被正确约束，使用约束类型“C0”和“C1”。...

     Mux_select，指定设计中model_mux（复制mux，插入很多的mux，是复制的相同的mux）的初始值是否一致，默认情况下，工具会models_mux作为一样的（mux具有一个选择端，应该是为了使初始时选择端选择的时一致的值）。...

tessent IST

标签：   其他

     在 Tessent Shell 环境中，您可以使用 Tessent MissionMode 生成一个控制器，使您能够在系统内测试 (IST) 环境以及制造测试环境中控制和运行 BIST 测试（例如 LogicBIST 和 MemoryBIST）。其应用包括汽车和其他对...

     在现代化设计中，on-chip clock control（OCC）电路通常被用来在测试期间管理...Tessent OCC时通过Tessent Shell创建一个时钟控制器的实现，被设计用来满足ATPG、Logic BIST、EDT和Low Pin Count Testde scan test。

     reapply_setting_after_reelaboration {on|off}，当再次对当前设计使用set_current_design时，将重新阐述设计，当设置为“on”时，Tessent shell会保留某些设置，例如add_clocks、add_black_boxes等；-f，可选，tcl...

     DFTspec中 memoryInterface/data_bits_per_bypass_signal 属性用来指定组合到一个XOR tree中的数据输入信息的数量,此设置在为RAM创建bypass logic时十分有用,工具提供了一个灵活的区间,1对1到多对1;...

14   
13  
12  
11  
10  
9  
8  
7  
6  
5  
4  
3  
2  
1  

推荐文章